2010 年 6 月 1 日，北京――安捷倫科技公司（NYSE: A）日前推出適用于 PNA-X 系列微波網(wǎng)絡(luò)分析儀的選件028。這款新選件可對高達(dá) 50 GHz 的放大器、變頻器和混頻器進(jìn)行高精度的信號源校正噪聲系數(shù)測量。

配備選件 028 的 PNA-X是業(yè)界唯一能夠校正由非理想系統(tǒng)源匹配引起誤差的網(wǎng)絡(luò)分析儀。它使用矢量誤差校正來消除失配誤差，并通過由阻抗調(diào)諧器構(gòu)成的ECal模塊來消除由噪聲參數(shù)引起的誤差。如此先進(jìn)的校準(zhǔn)方法使 PNA-X 能夠提供業(yè)界最高的噪聲系數(shù)測量精度，這在晶圓上、夾具內(nèi)和自動測試環(huán)境中效果尤為突出。

測量精度對于設(shè)計和測試放大器、轉(zhuǎn)換器，特別是低噪聲放大器的工程師來說尤為重要。在研發(fā)過程中，高測量精度可以更好地優(yōu)化發(fā)射/接收系統(tǒng)以及實(shí)現(xiàn)電路仿真和測量之間的關(guān)聯(lián)；在制造過程中，高測量精度意味著只需較小的保護(hù)頻帶即可實(shí)現(xiàn)更佳的元器件技術(shù)指標(biāo)，從而生產(chǎn)出更具競爭力的產(chǎn)品。

安捷倫選件 028 采用 PNA-X 的標(biāo)準(zhǔn) S 參數(shù)接收機(jī)和安捷倫獨(dú)有的信號源校正技術(shù)，可執(zhí)行高達(dá) 50 GHz 的噪聲系數(shù)測量。若測量 30 dB 以下極低噪聲的器件，則需要使用外部前置放大器和濾波器。若進(jìn)行高達(dá) 26.5 GHz 的噪聲系數(shù)測量，則需要使用額外的選件（選件 H29），以便為 50 GHz PNA-X 提供內(nèi)部低噪聲接收機(jī)。選件 H29 省去了使用外部前置放大器和濾波器的麻煩，同時使設(shè)置如同 S 參數(shù)測量一樣輕松。

安捷倫副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經(jīng)理 Gregg Peters 表示：“新選件 028 的推出，讓安捷倫廣泛的噪聲系數(shù)測量解決方案進(jìn)一步擴(kuò)大，以優(yōu)異的性價比滿足客戶的預(yù)算和測量需求。”“選件 028 具有出色的精度，而 PNA-X 能夠通過單次連接進(jìn)行多次測量，這些優(yōu)點(diǎn)將幫助工程師提高測試吞吐量并減少所使用儀器的數(shù)量，有助于構(gòu)建更簡便、更經(jīng)濟(jì)高效的測試系統(tǒng)。”

PNA-X 提供業(yè)界最廣泛的測量應(yīng)用軟件，可測量從射頻至毫米波的各種信號，工程師只需在它與被測件之間進(jìn)行一次連接，便可靈活地進(jìn)行各種測量，例如 S 參數(shù)、增益壓縮、互調(diào)失真和噪聲系數(shù)測量。通常，完成上述測量任務(wù)需要使用多種測試儀器，包括頻譜分析儀、兩個或三個信號發(fā)生器、配備下變頻器的噪聲系數(shù)分析儀以及矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。現(xiàn)在，PNA-X 進(jìn)行噪聲系數(shù)測量的速度通常比普通噪聲系數(shù)分析儀快 4 至 10 倍。與由多種儀器構(gòu)成的傳統(tǒng)系統(tǒng)相比，PNA-X 除了能夠執(zhí)行更廣泛的測量，還將總體測量吞吐量提高了 100 倍。