1.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi),全檢出組裝電路板上零件:電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件,是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
2.ICT能夠先期找出制程不良所在,如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題,回饋到制程的改善。
3.ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果,包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值,以供維修人員參考??梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度,不需對(duì)產(chǎn)品線路了解,照樣有維修能力。
4.能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì),生產(chǎn)管理人員加以分析,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。
正是由于ICT以上功能所帶給客戶的巨大效益,才有今天ICT得已廣泛運(yùn)用的現(xiàn)實(shí)!
二、ICT特別功能:
1.電解電容極性測(cè)試技術(shù):
電解電容反向、漏件100%可測(cè)
并聯(lián)電解電容反向、漏件100%可測(cè)
電解電容極性測(cè)試技術(shù)的工作原理:
1.1ICT就是利用第三根針施加一激發(fā)訊號(hào)(Trigger Signal)于電解電容頂端,并量測(cè)第三點(diǎn)與正或負(fù)端間的反應(yīng)訊號(hào)(如圖三)
1.2ICT利用DSP(數(shù)字訊號(hào)處理)技術(shù)加以運(yùn)算后,轉(zhuǎn)換成一組向量(Vectors)透過(guò)DFT(Discrete Fourier Transform,離散式傅立葉變換)及FFT(Fast Fourier Transform,快速傅立葉變換)等運(yùn)算方式,將量得的反應(yīng)訊號(hào)由 t(time) domain(示波器訊號(hào))轉(zhuǎn)換成 f(frequency) domain(頻譜分析儀訊號(hào))的向量組。
1.3經(jīng)由Learning取得一組標(biāo)準(zhǔn)向量值,而后待測(cè)物(DUT---Device Under Test)所量測(cè)的值(如圖五)再經(jīng)Pattern Match(特征辨識(shí)比對(duì)技術(shù))與原標(biāo)準(zhǔn)值比對(duì),以決定待測(cè)物極性正確與否。
Pattern Match的應(yīng)用如:指紋辨識(shí)、偽鈔辨識(shí)、視網(wǎng)膜辨識(shí)等均是。
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