ICT測試機培訓(xùn)系列-第五章ICT在線測試機測試原理
一信號源與Guarding Pin
1電流源
利用額定電流(已知確定的電流)為信號源提供測試R,并量測R電壓值,根據(jù)安培定理算出R,此方式以電阻量測最普遍。
2 電壓源
用額定電壓源(已知確定的電壓)為信號源提供測試C或L,量測C或
電流值,此方式以應(yīng)用在大電容、電感量測最普遍。
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3 Guarding Pin
電流源信號時:電流會在HI-PIN通過C1、R1分流,因此會提供G1、G2點隔離,此時,Vhi=VG1=VG2,因此,GUARD PIN位于HI-PIN串聯(lián)點,即高點分枝點。
電壓源信號時:為防止節(jié)點LO有外電流通過C1、R1流入,應(yīng)加G1、G2點隔離,此時,Vlo=VG1=VG2,因此,GUARD PIN位于HO-PIN串聯(lián)點,即低點分枝點。
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二電阻、電容、電感量測原理
1、電阻使用固定電流模式(mode0),針對相應(yīng)值提供相應(yīng)電流,此電流由TCB提供,規(guī)格如下:
范圍 |
電流 |
1-299.9Ω |
5mA |
300-2.99KΩ |
500uA |
3K -29.9KΩ |
50uA |
30K -299.9KΩ |
5uA |
300K-2.99MΩ |
0.5uA |
3M-40MΩ |
0.1uA |
2、不同阻抗的電容或電感,ICT本身會自動選擇一個適當?shù)念l率AC電壓源作為測試信號源,使用(mode0,mode1,mode2,mode3)以及所對應(yīng)的測試,已知V,f,量測I,可由公式求出C或L。
Debug mode |
Signal source |
Capacitor |
(Inductor) |
0 |
1KHZ |
400PF-30UF |
6mH-60H |
1 |
10KHZ |
40PF-4UF |
600mH以下 |
2 |
100KHZ |
1PF-40UF |
6mH以下 |
3 |
1MHZ |
1PF-300PF |
1uH-60uH |
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3、 交流相位(AC phase)測試模式(mode3,mode4,mode5)
提供AC電壓源,利用相位角度的領(lǐng)先、落后方式而得知被測電阻值。
Signal |
Range(L) |
Range(R) |
1KHZ |
600mH-60H |
5Ω-300KΩ |
10KHZ |
60mH-600mH |
5Ω-40KΩ |
100KHZ |
6mH-60mH |
5Ω-4KΩ |
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4、低固定電流源(Low constant current)模式(mode1)
該測試方法和固定電流源模式一樣,只是提供的電流大小會低一個數(shù)量級,在被測電阻于電路上若有并聯(lián)二極管或是IC Clamping diode,對于電阻兩端測量電壓值若超過0.5V-0.7V時,因為二極管導(dǎo)電的關(guān)系,該電阻兩端電壓將被維持在0.5V-0.7V左右,只要將原先的電流源降低一級即可。
Range |
Current |
1-299.9Ω |
500uA |
300-2.99KΩ |
50uA |
3K-29.9KΩ |
5uA |
30K-299KΩ |
0.5uA |
300K-2.99MΩ |
0.1uA |
當V>0.7V時,D會導(dǎo)通,形成分流。
例如:測2K的電阻時,使用 mode0:2K*0.5mA=1V>0.7V,
此時,應(yīng)選mode1:2K*0.05mA=0.1V<0.7V。$Page_Split$
5、快速(High-Speed)測試模式(mode2)
被測電阻并聯(lián)0.3MF以上電容時,用固定電流源測試時,讓電容充電均和,需要花費很長的時間,特別是電阻本身值很大時,測試電流更小,所用時間會更長,解決辦法可以將固定DC電流源改為0.2VDC固定電壓源,直接接于被測電阻兩端,如此短暫霎時間內(nèi)使其Ic=0,時,V=Ir*R=>R=V/Ir
6、DC固定電流(DC constanr Current)測試模式(mode4)
3UF以上電容值的電容,若使用AC電壓模式測試時,將要較低頻率來測試,而增加ICT測試時間,故可利用電容充電曲線的斜率方式得知電容值。
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7、齊納二極管(zener Diode)測試原理(mode0,mode1)
齊納二極管的測試和二極管的測試一樣,都是TCB提供電壓源,再由DC從兩端量回電壓,其差異只在電壓源不同,其電壓源:
a.0-10V /20mA可程序電壓源
b.0-10V /3mA可程序電壓源
由Vx兩端量負載電壓,齊納二極管反向量測,二極管正矢量測。
8、晶體管測試原理
晶體管測試需要三步驟:
a.B-E腳使用二極管測試方式
b.C-E腳使用二極管測試方式
c.E-C腳使用Vcc的飽和電壓值及截止電壓值的不同,來測試晶體管是否反件,需從a.b兩步判斷出晶體管屬NPN或PNP型,Guard點為B腳,Mode選擇NPN或PNP,并測量出E-C腳正向飽和電壓值0.2V左右。
元件名稱 |
高點 |
低點 |
隔點 |
信號 |
測試 |
Q-B-E |
B |
E |
|
0 |
D |
Q-B-C |
B |
C |
|
0 |
D |
Q-C-E |
C |
E |
B |
4 |
Q |