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ICT測試機培訓(xùn)系列-第五章ICT在線測試機測試原理

一信號源與Guarding Pin

1電流源

利用額定電流(已知確定的電流)為信號源提供測試R,并量測R電壓值,根據(jù)安培定理算出R,此方式以電阻量測最普遍。

電壓源

用額定電壓源(已知確定的電壓)為信號源提供測試CL,量測C

電流值,此方式以應(yīng)用在大電容、電感量測最普遍。

$Page_Split$

3 Guarding Pin

電流源信號時:電流會在HI-PIN通過C1R1分流,因此會提供G1、G2點隔離,此時,Vhi=VG1=VG2,因此,GUARD PIN位于HI-PIN串聯(lián)點,即高點分枝點。

電壓源信號時:為防止節(jié)點LO有外電流通過C1、R1流入,應(yīng)加G1、G2點隔離,此時,Vlo=VG1=VG2,因此,GUARD PIN位于HO-PIN串聯(lián)點,即低點分枝點。

$Page_Split$

二電阻、電容、電感量測原理

1電阻使用固定電流模式(mode0),針對相應(yīng)值提供相應(yīng)電流,此電流由TCB提供,規(guī)格如下:

范圍

電流

1-299.9Ω

5mA

300-2.99KΩ

500uA

3K -29.9KΩ

50uA

30K -299.9KΩ

5uA

300K-2.99MΩ

0.5uA

3M-40MΩ

0.1uA

 

2、不同阻抗的電容或電感,ICT本身會自動選擇一個適當?shù)念l率AC電壓作為測試信號源,使用(mode0,mode1,mode2,mode3)以及所對應(yīng)的測試,已知V,f,量測I,可由公式求出CL。

Debug mode

Signal source

Capacitor

(Inductor)

0

1KHZ

400PF-30UF

6mH-60H

1

10KHZ

40PF-4UF

600mH以下

2

100KHZ

1PF-40UF

6mH以下

3

1MHZ

1PF-300PF

1uH-60uH

$Page_Split$ 

 

3、             交流相位(AC phase)測試模式(mode3,mode4,mode5)

提供AC電壓源,利用相位角度的領(lǐng)先、落后方式而得知被測電阻值。

Signal

Range(L)

Range(R)

1KHZ

600mH-60H

5Ω-300KΩ

10KHZ

60mH-600mH

5Ω-40KΩ

100KHZ

6mH-60mH

5Ω-4KΩ

$Page_Split$ 

 

4、低固定電流源(Low constant current)模式(mode1)

    該測試方法和固定電流源模式一樣,只是提供的電流大小會低一個數(shù)量級,在被測電阻于電路上若有并聯(lián)二極管或是IC Clamping diode,對于電阻兩端測量電壓值若超過0.5V-0.7V時,因為二極管導(dǎo)電的關(guān)系,該電阻兩端電壓將被維持在0.5V-0.7V左右,只要將原先的電流源降低一級即可。

Range

Current

1-299.9Ω

500uA

300-2.99KΩ

50uA

3K-29.9KΩ

5uA

30K-299KΩ

0.5uA

300K-2.99MΩ

0.1uA

V>0.7V時,D會導(dǎo)通,形成分流。

例如:測2K的電阻時,使用 mode02K*0.5mA=1V>0.7V,

此時,應(yīng)選mode12K*0.05mA=0.1V<0.7V。$Page_Split$

 

5、快速(High-Speed)測試模式(mode2)

    被測電阻并聯(lián)0.3MF以上電容時,用固定電流源測試時,讓電容充電均和,需要花費很長的時間,特別是電阻本身值很大時,測試電流更小,所用時間會更長,解決辦法可以將固定DC電流源改為0.2VDC固定電壓源,直接接于被測電阻兩端,如此短暫霎時間內(nèi)使其Ic=0,時,V=Ir*R=>R=V/Ir

 

6、DC固定電流(DC constanr Current)測試模式(mode4)

    3UF以上電容值的電容,若使用AC電壓模式測試時,將要較低頻率來測試,而增加ICT測試時間,故可利用電容充電曲線的斜率方式得知電容值。

$Page_Split$

7、齊納二極管(zener Diode)測試原理(mode0,mode1)

    齊納二極管的測試和二極管的測試一樣,都是TCB提供電壓源,再由DC從兩端量回電壓,其差異只在電壓源不同,其電壓源:

a.0-10V /20mA可程序電壓源

b.0-10V /3mA可程序電壓源

    由Vx兩端量負載電壓,齊納二極管反向量測,二極管正矢量測。

 

8、晶體管測試原理

晶體管測試需要三步驟:

a.B-E腳使用二極管測試方式

b.C-E腳使用二極管測試方式

c.E-C腳使用Vcc的飽和電壓值及截止電壓值的不同,來測試晶體管是否反件,需從a.b兩步判斷出晶體管屬NPNPNP型,Guard點為B腳,Mode選擇NPNPNP,并測量出E-C腳正向飽和電壓值0.2V左右。

元件名稱

高點

低點

隔點

信號

測試

Q-B-E

B

E

 

0

D

Q-B-C

B

C

 

0

D

Q-C-E

C

E

B

4

Q

 

 

[錄入:admin] [日期:10-08-22]

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