30K歐姆~299.99K歐姆                        0.5uA
      300K歐姆~2.99M歐姆                         0.1uA

1.3 快速(High-Speed)測試模式(MODE2)

假如被測電阻并聯(lián)一個0.3uF以上的電容時,若使用上述固定電流源測試時,需要花費(fèi)很長的時間,讓電容充飽電荷,再去測量出Vr值,而得知R值,如此測試方法將增加ICT測試時間,為解決此問題,可以將固定DC電流源改為0.2V DC固定電壓源,直接接于被測電阻兩端,如此電容將會在短暫時間內(nèi)使其Ic=0,故電路上所有電流將流經(jīng)電阻R.其測量方式為:提供一個0.2V DC電壓源,當(dāng)Ic=0時,再測試流經(jīng)電阻兩端的Ir,因?yàn)閂=IrR,而V及Ir已知,即可得知電阻R的值.

1.4 交流相位(AC Phase)測試模式(MODE3,MODE4,MODE5)

由于電路設(shè)計關(guān)系,被測試電阻將會并聯(lián)著電感等元件,對于此電阻值測量,若使用固定電流源方式測試,電阻值將會偏低而無法測量出真正的電阻值,故使用AC電壓源,利用相位角度的領(lǐng)先,及落后方式而得知被測電阻值.故其測試方式為:提供一個適當(dāng)頻率的AC電壓源V,同時在被測電阻兩端測量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因?yàn)閂及Iz已知,故可得知Zrl,又因?yàn)镽=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被測電阻R值.