星河ICT在線測試儀 SRC6001、SRC8001A
詳細介紹:
一標(biāo)準(zhǔn)配置
測試主機: 1臺
開關(guān)板: 5塊(CMOS開關(guān)板)
主控電腦: 1臺
氣動夾具: 1套
票據(jù)打印機:1臺
安裝盤: 1張
測試電纜: 1.2米34芯扁平電纜10根
二測試點數(shù)
標(biāo)準(zhǔn): 320
最大: 2496
通道板:以64點增設(shè)(或128點)
三技術(shù)參數(shù)
1、開路/短路測試
測試方法:分組掃描
編程方法:自動學(xué)習(xí)
測試閥值: 5Ω~80Ω
測試電流: ≤10mA
測試速度: 1024點<1s (全開路或電纜短路)
2、元器件測試
測試電壓:±10V之間連續(xù)可調(diào)(CMOS開關(guān)板為-10V~+5V)
測試電流:0.1uA~100mA可編程(CMOS開關(guān)板為0.1uA~20mA)
測試速度:平均10ms/步
⑴電阻測試
測試范圍:0.1W~40MW
激勵電壓: 0~5V(可編程)
激勵電流:100nA~10mA
測試范圍
|
精度
|
測試時間
|
<1Ω
|
用4針測量法,分辨到10mΩ
|
1ms~5ms
|
1W~400KW
|
± (1% + 1W)
|
1ms~5ms
|
400KW~2MW
|
± 2%
|
1ms~20ms
|
2MW~40MW
|
± 3%
|
20ms~40m
|
⑵電容測試
測試范圍:1pF~40mF
激勵電壓:250mV~10V(可編程)
激勵電流:100nA~10mA
測試范圍
|
精度
|
測試時間
|
1pF~100pF
|
± (5% + 3pF)(消除引線電容)
|
2ms~10ms
|
100pF~1nF
|
± (5% + 10pF)
|
2ms~10ms
|
1nF~1uF
|
± 3%
|
2ms~10ms
|
1uF~500uF
|
± 5%
|
2ms~10ms
|
500uF~2000uF
|
± 5%
|
5ms~10ms
|
2000uF~40mF
|
± 5%
|
10ms~15ms
|
⑶其他測試
項目
|
范圍
|
精度
|
電壓
|
0V~10V,可選件:0~200V
|
±0.1%
|
電感
|
1uH~250 H
|
±5%
|
跳線
|
測試電壓2.5V
1Ω~100Ω可設(shè)定
|
|
PN結(jié)正向?qū)ㄌ匦?/span>
|
0.2V~2.5 V
|
|
二極管
|
PN結(jié)曲線測試、正反向壓降測試
|
|
穩(wěn)壓管
|
≤48V,CMOS開關(guān)板為0~10V
|
|
頻率測試
|
1Hz~50MHz(選件)
|
±0.1%
|
數(shù)字晶體管
|
0.01V~2.5 V
|
|
普通晶體管
|
β值 1~1000,≤10mA驅(qū)動電流
|
±5%
|
光電藕合器
|
1mA~10mA驅(qū)動
|
0.01V~2.5v變化量
|
多管腳器件
|
光電藕合器、場效應(yīng)管、可控硅、電位器、繼電器、接插件等
驅(qū)動電流0~10mA
驅(qū)動電壓0~10V
|
|
極性電容
|
三針測量,金屬外殼,
0.1uF~40mF
|
|
IC管腳開路測量
|
PN結(jié)掃描、電壓感應(yīng)測試
|
|
功能測試
|
電壓、電流、頻率、脈寬、
IC邏輯、霍爾元件等可定制
|
|
自動放電功能
(測試前,雙針或全板放電)
|
CMOS放電電壓<15V
Relay放電電壓<220V
|
|
3、自動隔離測
隔離方法:自動/人工設(shè)置
隔離點數(shù):最多8點/步
隔離電流:0~100mA,CMOS開關(guān)板為10mA
了解更多ict測試儀相關(guān)信息請訪問以下內(nèi)容
ICT在線測試儀作用與功能 ICT在線測試儀產(chǎn)生的效益
ICT在線測試儀與飛針測試儀分析比較 AOI與ICT在線測試技術(shù)