新增應(yīng)用解決方案——4200-FLASH工具包為功能強(qiáng)大的黑盒式Flash存儲(chǔ)器測(cè)試解決方案，實(shí)現(xiàn)針對(duì)Flash存儲(chǔ)器的三種最重要測(cè)試：特征分析、耐久性測(cè)試和干擾測(cè)試。該應(yīng)用工具包自動(dòng)實(shí)現(xiàn)直流測(cè)試和脈沖測(cè)試的切換，無(wú)需外部開關(guān)。其內(nèi)置高耐久性輸出繼電器，摒棄大多數(shù)Flash測(cè)試采用的外部固態(tài)繼電器，從而加快Flash存儲(chǔ)器的壽命測(cè)試，提高測(cè)試效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包內(nèi)提供的專用代碼和項(xiàng)目簡(jiǎn)化Flash存儲(chǔ)器測(cè)試的配置和啟動(dòng)過(guò)程。

新增的4200-PIV-A工具包，為吉時(shí)利（Keithley）現(xiàn)有獲獎(jiǎng)工具包4200-PIV的增強(qiáng)版，專門針對(duì)前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增強(qiáng)功能包括改進(jìn)的低至100nA的低電流分辨率、結(jié)合了脈沖測(cè)試與直流測(cè)試的友好操作界面和直觀的圖形界面。

連續(xù)的軟件升級(jí)

KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境）的最新版本V6.2版增強(qiáng)多種軟件功能， 包括采用以太網(wǎng)連接，遠(yuǎn)程調(diào)用脈沖發(fā)生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用戶測(cè)試模塊）中遠(yuǎn)程控制板級(jí)測(cè)試，這些新功能改進(jìn)了原來(lái)通過(guò)外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一項(xiàng)新功能允許用戶在多種常規(guī)應(yīng)用中通過(guò)友好的GUI界面與單個(gè)的UTM進(jìn)行交互，包括一個(gè)開關(guān)矩陣控制器和PIV測(cè)試。KTEI V6.2版還可作為獨(dú)立軟件工具包安裝在用戶PC機(jī)，用于離線測(cè)試生成和測(cè)試后期數(shù)據(jù)分析?，F(xiàn)有客戶能夠很方便地升級(jí)到新版應(yīng)用解決方案，保護(hù)投資，減少固定設(shè)備建設(shè)費(fèi)用，從而降低測(cè)試總成本

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